IGBT-Modul, 3300V 500A
Schlüssel Parameter
VCES | 3300 v |
VCE (Sat) | (typisch) 2.40 v |
- Ich weiß. | (maximal) 500 a) |
IC ((RM) | (maximal) 1000 a) |
typische Anwendungen
Merkmale
Absolut maximal - Das ist es.- Das ist nicht wahr.
(Symbol) | (Parameter) | (Prüfbedingungen) | (Wert) | (Einheit) |
VCES | Spannung zwischen Kollektor und Emitter | V GE = 0V,Tvj = 25°C | 3300 | v |
V GES | Spannung des Tor-Emitters |
| ± 20 | v |
I C | Sammler-Emitterstrom | T case = 100 °C, Tvj = 150 °C | 500 | a) |
I C ((PK) | Spitzenstrom des Kollektors | 1 ms, T-Fall = 140 °C | 1000 | a) |
P max | Max. Transistorenleistungsabbau | Tvj = 150°C, T case = 25 °C | 5.2 | kW |
1t | Diode I t | VR =0V, t P = 10ms, Tvj = 150 °C | 80 | kA2s |
Schnüren | Isolationsspannung pro Modul | Gemeinsame Anschlüsse zur Grundplatte), AC RMS,1 min, 50Hz | 6000 | v |
Q PD | Teilweise Entladung pro Modul | Die Größe der Verpackung ist: Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. | 10 | PC |
DieTrikal Charaktere
tFall = 25 °c- Ich weiß.t Fall- Ich weiß.= 25°c es sei denn angegeben Ansonsten | ||||||
(Symbol) | (Parameter) | (Prüfbedingungen) | (Min) | (Typ) | (maximal) | (Einheit) |
Ich CES | Sammler-Abschlusstrom | v GE = 0V, vc- Ich weiß.= vCES |
|
| 1 | - Ich weiß. |
v GE = 0V, vc- Ich weiß.= vCES - Ich weiß. t Fall = 125 °C |
|
| 30 | - Ich weiß. | ||
v GE = 0V, vc- Ich weiß.=vCES - Ich weiß. t Fall =150 °C |
|
| 50 | - Ich weiß. | ||
Ich GES | Leckage durch das Tor Strom | v GE = ±20V, vc- Ich weiß.= 0V |
|
| 1 | μA |
v GE (TH) | Schrankschwellenspannung | Ich c = 40- Ich weiß.- Ich weiß. v GE =vc | 5.50 | 6.10 | 7.00 | v |
vc (gesetzt)(b) | Sättigung des Sammler-Emitters Spannung | v GE =15V,Ich C = 500a |
| 2.40 | 2.90 | v |
v GE =15V,Ich c- Ich weiß.= 500 A,tVj = 125 °c |
| 2.95 | 3.40 | v | ||
v GE =15V,Ich c- Ich weiß.= 500 A,tVj = 150 °c |
| 3.10 | 3.60 | v | ||
Ich f | Diodenvorwärtsstrom | dc |
| 500 |
| a) |
Ich FRM | Diode maximal nach vorne Strom | t p = 1 ms |
| 1000 |
| a) |
vf(b) |
Diodenvorwärtsspannung | Ich f = 500a |
| 2.10 | 2.60 | v |
Ich f = 500 A, tVj- Ich weiß.= 125 °C |
| 2.25 | 2.70 | v | ||
Ich f = 500 A, tVj- Ich weiß.= 150 °C |
| 2.25 | 2.70 | v | ||
c- Nein. | Eingangskapazität | vc = 25 V, v GE- Ich weiß.= 0V,f = 1MZ |
| 90 |
| NF |
QG | Gate-Ladung | ±15V |
| 9 |
| μC |
cAufnahme | UmkehrübertragungsfähigkeitZitat | vc = 25 V, v GE- Ich weiß.= 0V,f = 1MZ |
| 2 |
| NF |
Ich... m | Modul Induktivität |
|
| 25 |
| - Nein. |
R In | Interne Transistorwiderstand |
|
| 310 |
| μΩ |
Ich Sc | Kurzschluss Strom IchSc | tVj = 150°C, v Cc = 2500 V, v GE ≤15 V,tp ≤10μs, vc(maximal) = vCES –Ich... (b) ×Die- Ich weiß.dt- Ich weiß.IEC 6074-9 |
|
1800 |
|
a) |
Td (ausgeschaltet) | Verzögerungszeit für die Abschaltung |
Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. L ~ 150nH Die in Absatz 1 genannten Anforderungen gelten für die Berechnung der Leistungsspiegel. |
| 1720 |
| NS |
t f | Herbstzeit |
| 520 |
| NS | |
E OFF | Energieverlust bei Abschaltung |
| 780 |
| m | |
Die Daten sind nicht verfügbar. | Verzögerungszeit der Einleitung |
| 650 |
| NS | |
Tr | Aufstiegszeit |
| 260 |
| NS | |
EON | Einschaltenergieverlust |
| 730 |
| m | |
Qrr | Diode Rückwärtswiederherstellungsladung |
I F = 500A VCE =1800V Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. |
| 390 |
| μC |
I rr | Diode Rückwärtswiederherstellungsstrom |
| 420 |
| a) | |
Erek | Diode Rückwärtswiederherstellungsenergie |
| 480 |
| m |
(Symbol) | (Parameter) | (Prüfbedingungen) | (Min) | (typisch) | (Max) | (Einheit) |
Td (ausgeschaltet) | Verzögerungszeit für die Abschaltung |
Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. Die in Absatz 1 genannten Anforderungen gelten für die Berechnung der Leistungsspiegel. |
| 1860 |
| NS |
t f | Herbstzeit |
| 550 |
| NS | |
E OFF | Energieverlust bei Abschaltung |
| 900 |
| m | |
Die Daten sind nicht verfügbar. | Verzögerungszeit der Einleitung |
| 630 |
| NS | |
Tr | AufstiegAufstiegszeit |
| 280 |
| NS | |
EON | Einschaltenergieverlust |
| 880 |
| m | |
Qrr | Diode Rückwärtswiederherstellungsladung |
I F = 500A VCE =1800V Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. |
| 620 |
| μC |
I rr | Diode Rückwärtswiederherstellungsstrom |
| 460 |
| a) | |
Erek | Diode Rückwärtswiederherstellungsenergie |
| 760 |
| m |
(Symbol) | (Parameter) | (Prüfbedingungen) | (Min) | (Typ) | (Max) | (Einheit) |
Td (ausgeschaltet) | Verzögerungszeit für die Abschaltung |
Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. Die in Absatz 1 genannten Anforderungen gelten für die Berechnung der Leistungsspiegel. |
| 1920 |
| NS |
t f | Fallzeit |
| 560 |
| NS | |
E OFF | Energieverlust bei Abschaltung |
| 1020 |
| m | |
Die Daten sind nicht verfügbar. | Verzögerungszeit der Einleitung |
| 620 |
| NS | |
Tr | Anstiegszeit |
| 280 |
| NS | |
EON | Einschaltenergieverlust |
| 930 |
| m | |
Qrr | Diode Rückwärtswiederherstellungsladung |
I F = 500A VCE =1800V Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. |
| 720 |
| μC |
I rr | Diode Rückwärtswiederherstellungsstrom |
| 490 |
| a) | |
Erek | Diode Rückwärtswiederherstellungsenergie |
| 900 |
| m |
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