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簡潔な紹介
IGBT モジュール 、STARPOWERによって製造。 1200V 200A. 本当
特徴
典型的な用途
絶対値 最大 レーティング T C =25 O C しない限り 違うなら 記載
T1、T4 IGBT
シンボル | 説明 | 値 | ユニット |
v CES | 集合器-放出器の電圧 | 1200 | v |
v 総エネルギー | ゲート・エミッター・ボルト | ±20 | v |
わかった C | コレクタ電流 @ T C =25 O C @ T C = 100O C | 339 200 | A について |
わかった cm | パルスコレクター電流 t P = 1ミリ秒 | 400 | A について |
P D | 最大電源 消耗 @ T j =175 O C | 1456 | W について |
D1、D4 ダイオード
シンボル | 説明 | 価値 | ユニット |
v RRM | 繰り返しのピーク逆電圧 | 1200 | v |
わかった F | ダイオード 連続前向き 賃貸 | 75 | A について |
わかった Fm | ダイオード最大順方向電流 t P = 1ミリ秒 | 150 | A について |
T2、T3 IGBT
シンボル | 説明 | 価値 | ユニット |
v CES | 集合器-放出器の電圧 | 650 | v |
v 総エネルギー | ゲート・エミッター・ボルト | ±20 | v |
わかった C | コレクタ電流 @ T C =25 O C @ T C =95 O C | 158 100 | A について |
わかった cm | パルスコレクター電流 t P = 1ミリ秒 | 200 | A について |
P D | 最大電源 消耗 @ T j =175 O C | 441 | W について |
D2、D3 ダイオード
シンボル | 説明 | 価値 | ユニット |
v RRM | 繰り返しのピーク逆電圧 | 650 | v |
わかった F | ダイオード 連続前向き 賃貸 | 100 | A について |
わかった Fm | ダイオード最大順方向電流 t P = 1ミリ秒 | 200 | A について |
モジュール
シンボル | 説明 | 価値 | ユニット |
T jmax | 交差点最大温度 | 175 | O C |
T ショウジョウ | 交差点の動作温度 | -40から+150 | O C |
T STG | 保管温度 航続距離 | -40から+125 | O C |
v ISO | 絶縁電圧RMS,f=50Hz,t=1 ほんの少し | 2500 | v |
T1、T4 IGBT 特徴 T C =25 O C しない限り 違うなら 記載
シンボル | パラメータ | 試験条件 | 分。 | タイプする | マックス。 | ユニット |
v 衛星 |
収集機から発信機へ 飽和電圧 | わかった C = 100A,V 遺伝子組み換え = 15V T j =25 O C |
| 1.40 | 1.85 |
v |
わかった C = 100A,V 遺伝子組み換え = 15V T j =125 について O C |
| 1.65 |
| |||
わかった C = 100A,V 遺伝子組み換え = 15V T j =150 について O C |
| 1.70 |
| |||
v 遺伝子組み換え (TH ) | ゲート発信者の限界値 圧力は | わかった C =5.0 mA ,v CE = v 遺伝子組み換え , T j =25 O C | 5.2 | 6.0 | 6.8 | v |
わかった CES | 収集家 カット -オフ 現在 | v CE = v CES ,v 遺伝子組み換え =0V T j =25 O C |
|
| 1.0 | mA |
わかった 総エネルギー | ゲート発射器の漏れ 現在 | v 遺伝子組み換え = v 総エネルギー ,v CE =0V T j =25 O C |
|
| 400 | NA |
r ゲント | 内部ゲート抵抗 アンス |
|
| 3.8 |
| Ω |
C ies | 入力容量 | v CE 電気回路が1Mhzで v 遺伝子組み換え =0V |
| 20.7 |
| ロープ |
C res | 逆転移転 容量 |
| 0.58 |
| ロープ | |
Q g | ゲートチャージ | v 遺伝子組み換え =- やってる 15...+15V |
| 1.56 |
| 微分 |
T D (on ) | オンする遅延時間 |
v 定電流 =400V、I C = 100A, r g = 1. 1Ω、V 遺伝子組み換え =±15V T j =25 O C |
| 142 |
| NS |
T r | 昇る時間 |
| 25 |
| NS | |
T D (オフ ) | 切断する 遅延時間 |
| 352 |
| NS | |
T F | 秋の時間 |
| 33 |
| NS | |
e on | オン スイッチング 損失 |
| 1.21 |
| mJ | |
e オフ | 切断する 損失 |
| 3.90 |
| mJ | |
T D (on ) | オンする遅延時間 |
v 定電流 =400V、I C = 100A, r g = 1. 1Ω、V 遺伝子組み換え =±15V T j = 125O C |
| 155 |
| NS |
T r | 昇る時間 |
| 29 |
| NS | |
T D (オフ ) | 切断する 遅延時間 |
| 440 |
| NS | |
T F | 秋の時間 |
| 61 |
| NS | |
e on | オン スイッチング 損失 |
| 2.02 |
| mJ | |
e オフ | 切断する 損失 |
| 5.83 |
| mJ | |
T D (on ) | オンする遅延時間 |
v 定電流 =400V、I C = 100A, r g = 1. 1Ω、V 遺伝子組み換え =±15V T j = 150O C |
| 161 |
| NS |
T r | 昇る時間 |
| 30 |
| NS | |
T D (オフ ) | 切断する 遅延時間 |
| 462 |
| NS | |
T F | 秋の時間 |
| 66 |
| NS | |
e on | オン スイッチング 損失 |
| 2.24 |
| mJ | |
e オフ | 切断する 損失 |
| 6.49 |
| mJ | |
わかった SC |
SC データ | T P ≤10μs,V 遺伝子組み換え =15V T j =150 について O C,V 定電流 =800V v 単数 ≤1200V |
|
800 |
|
A について |
D1、D4 ダイオード 特徴 T C =25 O C しない限り 違うなら 記載
シンボル | パラメータ | 試験条件 | 分。 | タイプする | マックス。 | ユニット |
v F | ダイオード 前向き 圧力は | わかった F =75A,V 遺伝子組み換え =0V,T j =25 O C |
| 1.70 | 2.15 |
v |
わかった F =75A,V 遺伝子組み換え =0V,T j = 125O C |
| 1.65 |
| |||
わかった F =75A,V 遺伝子組み換え =0V,T j = 150O C |
| 1.65 |
| |||
Q r | 回収された電荷 | v r =400V、I F =75A, -di/dt=3500A/μs、V 遺伝子組み換え =- やってる 15V T j =25 O C |
| 8.7 |
| 微分 |
わかった ロープ | ピーク逆 回復電流 |
| 122 |
| A について | |
e レス | 逆転回復 エネルギー |
| 2.91 |
| mJ | |
Q r | 回収された電荷 | v r =400V、I F =75A, -di/dt=3500A/μs、V 遺伝子組み換え =- やってる 15V T j = 125O C |
| 17.2 |
| 微分 |
わかった ロープ | ピーク逆 回復電流 |
| 143 |
| A について | |
e レス | 逆転回復 エネルギー |
| 5.72 |
| mJ | |
Q r | 回収された電荷 | v r =400V、I F =75A, -di/dt=3500A/μs、V 遺伝子組み換え =- やってる 15V T j = 150O C |
| 19.4 |
| 微分 |
わかった ロープ | ピーク逆 回復電流 |
| 152 |
| A について | |
e レス | 逆転回復 エネルギー |
| 6.30 |
| mJ |
T2、T3 IGBT 特徴 T C =25 O C しない限り 違うなら 記載
シンボル | パラメータ | 試験条件 | 分。 | タイプする | マックス。 | ユニット |
v 衛星 |
収集機から発信機へ 飽和電圧 | わかった C = 100A,V 遺伝子組み換え = 15V T j =25 O C |
| 1.45 | 1.90 |
v |
わかった C = 100A,V 遺伝子組み換え = 15V T j =125 について O C |
| 1.60 |
| |||
わかった C = 100A,V 遺伝子組み換え = 15V T j =150 について O C |
| 1.70 |
| |||
v 遺伝子組み換え (TH ) | ゲート発信者の限界値 圧力は | わかった C = 1.60mA、V CE =V 遺伝子組み換え , T j =25 O C | 5.0 | 5.8 | 6.5 | v |
わかった CES | 収集家 カット -オフ 現在 | v CE = v CES ,v 遺伝子組み換え =0V T j =25 O C |
|
| 1.0 | mA |
わかった 総エネルギー | ゲート発射器の漏れ 現在 | v 遺伝子組み換え = v 総エネルギー ,v CE =0V T j =25 O C |
|
| 400 | NA |
r ゲント | 内部ゲート抵抗 アンス |
|
| 2.0 |
| Ω |
C ies | 入力容量 | v CE 電気回路が1Mhzで v 遺伝子組み換え =0V |
| 11.6 |
| ロープ |
C res | 逆転移転 容量 |
| 0.23 |
| ロープ | |
Q g | ゲートチャージ | v 遺伝子組み換え =- やってる 15...+15V |
| 0.69 |
| 微分 |
T D (on ) | オンする遅延時間 |
v 定電流 =400V、I C = 100A, r g =3.3Ω,V 遺伝子組み換え =±15V T j =25 O C |
| 44 |
| NS |
T r | 昇る時間 |
| 20 |
| NS | |
T D (オフ ) | 切断する 遅延時間 |
| 200 |
| NS | |
T F | 秋の時間 |
| 28 |
| NS | |
e on | オン スイッチング 損失 |
| 1.48 |
| mJ | |
e オフ | 切断する 損失 |
| 2.48 |
| mJ | |
T D (on ) | オンする遅延時間 |
v 定電流 =400V、I C = 100A, r g =3.3Ω,V 遺伝子組み換え =±15V T j = 125O C |
| 48 |
| NS |
T r | 昇る時間 |
| 24 |
| NS | |
T D (オフ ) | 切断する 遅延時間 |
| 216 |
| NS | |
T F | 秋の時間 |
| 40 |
| NS | |
e on | オン スイッチング 損失 |
| 2.24 |
| mJ | |
e オフ | 切断する 損失 |
| 3.28 |
| mJ | |
T D (on ) | オンする遅延時間 |
v 定電流 =400V、I C = 100A, r g =3.3Ω,V 遺伝子組み換え =±15V T j = 150O C |
| 52 |
| NS |
T r | 昇る時間 |
| 24 |
| NS | |
T D (オフ ) | 切断する 遅延時間 |
| 224 |
| NS | |
T F | 秋の時間 |
| 48 |
| NS | |
e on | オン スイッチング 損失 |
| 2.64 |
| mJ | |
e オフ | 切断する 損失 |
| 3.68 |
| mJ | |
わかった SC |
SC データ | T P ≤6μs,V 遺伝子組み換え = 15V T j =150 について O C,V 定電流 =360V v 単数 ≤650V |
|
500 |
|
A について |
D2、D3 ダイオード 特徴 T C =25 O C しない限り 違うなら 記載
シンボル | パラメータ | 試験条件 | 分。 | タイプする | マックス。 | ユニット |
v F | ダイオード 前向き 圧力は | わかった F = 100A,V 遺伝子組み換え =0V,T j =25 O C |
| 1.55 | 2.00 |
v |
わかった F = 100A,V 遺伝子組み換え =0V,T j = 125O C |
| 1.50 |
| |||
わかった F = 100A,V 遺伝子組み換え =0V,T j = 150O C |
| 1.45 |
| |||
Q r | 回収された電荷 | v r =400V、I F = 100A, -di/dt=4070A/μs、V 遺伝子組み換え =- やってる 15V T j =25 O C |
| 3.57 |
| 微分 |
わかった ロープ | ピーク逆 回復電流 |
| 99 |
| A について | |
e レス | 逆転回復 エネルギー |
| 1.04 |
| mJ | |
Q r | 回収された電荷 | v r =400V、I F = 100A, -di/dt=4070A/μs、V 遺伝子組み換え =- やってる 15V T j = 125O C |
| 6.49 |
| 微分 |
わかった ロープ | ピーク逆 回復電流 |
| 110 |
| A について | |
e レス | 逆転回復 エネルギー |
| 1.70 |
| mJ | |
Q r | 回収された電荷 | v r =400V、I F = 100A, -di/dt=4070A/μs、V 遺伝子組み換え =- やってる 15V T j = 150O C |
| 7.04 |
| 微分 |
わかった ロープ | ピーク逆 回復電流 |
| 110 |
| A について | |
e レス | 逆転回復 エネルギー |
| 1.81 |
| mJ |
NTC 特徴 T C =25 O C しない限り 違うなら 記載
シンボル | パラメータ | 試験条件 | 分。 | タイプする | マックス。 | ユニット |
r 25 | 定数抵抗 |
|
| 5.0 |
| kΩ |
ΔR/R | 偏差 の r 100 | T C = 100 O C,R 100=493.3Ω | -5 |
| 5 | % |
P 25 | 電力 散熱 |
|
|
| 20.0 | mW |
B について 25/50 | B値 | r 2=R 25経験 [B 25/50 1/T 2- 半角形から |
| 3375 |
| K |
B について 25/80 | B値 | r 2=R 25経験 [B 25/80 1/T 2- 半角形から |
| 3411 |
| K |
B について 25/100 | B値 | r 2=R 25経験 [B 25/100 1/T 2- 半角形から |
| 3433 |
| K |
モジュール 特徴 T C =25 O C しない限り 違うなら 記載
シンボル | パラメータ | 分。 | タイプする | マックス。 | ユニット |
r thJC | 交差点からケース (T1あたり) T4 IGBT) 接合部からケースまで(D1、D4ダイオードごと) de) について 接合部からケースまで(T2ごと) T3 IGBT) 接合部からケース (D2,D3 ダイオード毎に) de) について |
| 0.094 0.405 0.309 0.544 | 0.103 0.446 0.340 0.598 |
総量 |
r thCH | ケースからヒートシンクへの(per T1,T4 IGBT) ケースからヒートシンク (D1,D4毎に) ダイオード) ケースからヒートシンクへの(per T2,T3 IGBT) ケースからヒートシンク (D2,D3毎に) ダイオード) ケースからヒートシンクへの(per モジュール) |
| 0.126 0.547 0.417 0.733 0.037 |
|
総量 |
F | クラムごとの取り付け力 | 40 |
| 80 | n |
g | 重量 の モジュール |
| 39 |
| g |
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