IGBT-Modul, 3300V 500A
Schlüssel Parameter
VCES |
3300 v |
VCE (Sat) |
(typisch) 2.40 v |
- Ich weiß. |
(maximal) 500 a) |
IC ((RM) |
(maximal) 1000 a) |
typische Anwendungen
Merkmale
Absolut maximal - Das ist es.- Das ist nicht wahr.
(Symbol) |
(Parameter) |
(Prüfbedingungen) |
(Wert) |
(Einheit) |
VCES |
Spannung zwischen Kollektor und Emitter |
V GE = 0V,Tvj = 25°C |
3300 |
v |
V GES |
Spannung des Tor-Emitters |
|
± 20 |
v |
I C |
Sammler-Emitterstrom |
T case = 100 °C, Tvj = 150 °C |
500 |
a) |
I C ((PK) |
Spitzenstrom des Kollektors |
1 ms, T-Fall = 140 °C |
1000 |
a) |
P max |
Max. Transistorenleistungsabbau |
Tvj = 150°C, T case = 25 °C |
5.2 |
kW |
1t |
Diode I t |
VR =0V, t P = 10ms, Tvj = 150 °C |
80 |
kA2s |
Schnüren |
Isolationsspannung pro Modul |
Gemeinsame Anschlüsse zur Grundplatte), AC RMS,1 min, 50Hz |
6000 |
v |
Q PD |
Teilweise Entladung pro Modul |
Die Größe der Verpackung ist: Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. |
10 |
PC |
DieTrikal Charaktere
tFall = 25 °c- Ich weiß.t Fall- Ich weiß.= 25°c es sei denn angegeben Ansonsten |
||||||
(Symbol) |
(Parameter) |
(Prüfbedingungen) |
(Min) |
(Typ) |
(maximal) |
(Einheit) |
Ich CES |
Sammler-Abschlusstrom |
v GE = 0V, vc- Ich weiß.= vCES |
|
|
1 |
- Ich weiß. |
v GE = 0V, vc- Ich weiß.= vCES - Ich weiß. t Fall = 125 °C |
|
|
30 |
- Ich weiß. |
||
v GE = 0V, vc- Ich weiß.=vCES - Ich weiß. t Fall =150 °C |
|
|
50 |
- Ich weiß. |
||
Ich GES |
Leckage durch das Tor Strom |
v GE = ±20V, vc- Ich weiß.= 0V |
|
|
1 |
μA |
v GE (TH) |
Schrankschwellenspannung |
Ich c = 40- Ich weiß.- Ich weiß. v GE =vc |
5.50 |
6.10 |
7.00 |
v |
vc (gesetzt)(b) |
Sättigung des Sammler-Emitters Spannung |
v GE =15V,Ich C = 500a |
|
2.40 |
2.90 |
v |
v GE =15V,Ich c- Ich weiß.= 500 A,tVj = 125 °c |
|
2.95 |
3.40 |
v |
||
v GE =15V,Ich c- Ich weiß.= 500 A,tVj = 150 °c |
|
3.10 |
3.60 |
v |
||
Ich f |
Diodenvorwärtsstrom |
dc |
|
500 |
|
a) |
Ich FRM |
Diode maximal nach vorne Strom |
t p = 1 ms |
|
1000 |
|
a) |
vf(b) |
Diodenvorwärtsspannung |
Ich f = 500a |
|
2.10 |
2.60 |
v |
Ich f = 500 A, tVj- Ich weiß.= 125 °C |
|
2.25 |
2.70 |
v |
||
Ich f = 500 A, tVj- Ich weiß.= 150 °C |
|
2.25 |
2.70 |
v |
||
c- Nein. |
Eingangskapazität |
vc = 25 V, v GE- Ich weiß.= 0V,f = 1MZ |
|
90 |
|
NF |
QG |
Gate-Ladung |
±15V |
|
9 |
|
μC |
cAufnahme |
UmkehrübertragungsfähigkeitZitat |
vc = 25 V, v GE- Ich weiß.= 0V,f = 1MZ |
|
2 |
|
NF |
Ich... m |
Modul Induktivität |
|
|
25 |
|
- Nein. |
R In |
Interne Transistorwiderstand |
|
|
310 |
|
μΩ |
Ich Sc |
Kurzschluss Strom IchSc |
tVj = 150°C, v Cc = 2500 V, v GE ≤15 V,tp ≤10μs, vc(maximal) = vCES –Ich... (b) ×Die- Ich weiß.dt- Ich weiß.IEC 6074-9 |
|
1800 |
|
a) |
Td (ausgeschaltet) |
Verzögerungszeit für die Abschaltung |
Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. L ~ 150nH Die in Absatz 1 genannten Anforderungen gelten für die Berechnung der Leistungsspiegel. |
|
1720 |
|
NS |
t f |
Herbstzeit |
|
520 |
|
NS |
|
E OFF |
Energieverlust bei Abschaltung |
|
780 |
|
m |
|
Die Daten sind nicht verfügbar. |
Verzögerungszeit der Einleitung |
|
650 |
|
NS |
|
Tr |
Aufstiegszeit |
|
260 |
|
NS |
|
EON |
Einschaltenergieverlust |
|
730 |
|
m |
|
Qrr |
Diode Rückwärtswiederherstellungsladung |
I F = 500A VCE =1800V Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. |
|
390 |
|
μC |
I rr |
Diode Rückwärtswiederherstellungsstrom |
|
420 |
|
a) |
|
Erek |
Diode Rückwärtswiederherstellungsenergie |
|
480 |
|
m |
(Symbol) |
(Parameter) |
(Prüfbedingungen) |
(Min) |
(typisch) |
(Max) |
(Einheit) |
Td (ausgeschaltet) |
Verzögerungszeit für die Abschaltung |
Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. Die in Absatz 1 genannten Anforderungen gelten für die Berechnung der Leistungsspiegel. |
|
1860 |
|
NS |
t f |
Herbstzeit |
|
550 |
|
NS |
|
E OFF |
Energieverlust bei Abschaltung |
|
900 |
|
m |
|
Die Daten sind nicht verfügbar. |
Verzögerungszeit der Einleitung |
|
630 |
|
NS |
|
Tr |
AufstiegAufstiegszeit |
|
280 |
|
NS |
|
EON |
Einschaltenergieverlust |
|
880 |
|
m |
|
Qrr |
Diode Rückwärtswiederherstellungsladung |
I F = 500A VCE =1800V Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. |
|
620 |
|
μC |
I rr |
Diode Rückwärtswiederherstellungsstrom |
|
460 |
|
a) |
|
Erek |
Diode Rückwärtswiederherstellungsenergie |
|
760 |
|
m |
(Symbol) |
(Parameter) |
(Prüfbedingungen) |
(Min) |
(Typ) |
(Max) |
(Einheit) |
Td (ausgeschaltet) |
Verzögerungszeit für die Abschaltung |
Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. Die in Absatz 1 genannten Anforderungen gelten für die Berechnung der Leistungsspiegel. |
|
1920 |
|
NS |
t f |
Fallzeit |
|
560 |
|
NS |
|
E OFF |
Energieverlust bei Abschaltung |
|
1020 |
|
m |
|
Die Daten sind nicht verfügbar. |
Verzögerungszeit der Einleitung |
|
620 |
|
NS |
|
Tr |
Anstiegszeit |
|
280 |
|
NS |
|
EON |
Einschaltenergieverlust |
|
930 |
|
m |
|
Qrr |
Diode Rückwärtswiederherstellungsladung |
I F = 500A VCE =1800V Die Prüfungen werden in der Regel in einem anderen Mitgliedstaat durchgeführt. |
|
720 |
|
μC |
I rr |
Diode Rückwärtswiederherstellungsstrom |
|
490 |
|
a) |
|
Erek |
Diode Rückwärtswiederherstellungsenergie |
|
900 |
|
m |
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